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　　在線測(cè)試儀(ICT)作為一種檢測(cè)設(shè)備廣泛應(yīng)用于線路板組裝過程中，這種測(cè)試方法的關(guān)鍵技術(shù)就在于元器件隔離，即當(dāng)對(duì)某個(gè)元件進(jìn)行測(cè)試時(shí)不能受其它相連元件的影響。本文介紹一種反向驅(qū)動(dòng)電流檢測(cè)技術(shù)，可提高元件隔離的可靠性，同時(shí)防止在隔離過程中對(duì)元件造成損傷或誤判。

　　在線測(cè)試儀采用針床夾具接觸印制線路板上的每個(gè)節(jié)點(diǎn)，然后將每個(gè)元件單獨(dú)隔離起來進(jìn)行測(cè)試，就好像它是PCB上唯一的元件一樣。如果每一個(gè)元件都測(cè)試通過，就可以認(rèn)為這塊板沒有裝配缺陷并具有正常的應(yīng)用功能，這一測(cè)試策略之所以可行是因?yàn)樵诰€測(cè)試儀使用的技術(shù)可以使被測(cè)元件周圍的元件不會(huì)對(duì)其產(chǎn)生電性影響。

　　數(shù)字隔離技術(shù)

　　圖1是一個(gè)數(shù)字電路的例子，其中U8為被測(cè)元件，測(cè)試儀在U8的輸入引腳施加一系列數(shù)字測(cè)試向量，然后在輸出引腳處進(jìn)行測(cè)量以確認(rèn)功能正常。
　　為保證測(cè)試儀能夠驅(qū)動(dòng)U8輸入腳達(dá)到所需邏輯狀態(tài)，數(shù)字引腳驅(qū)動(dòng)器應(yīng)設(shè)計(jì)為低阻抗電流源，典型狀態(tài)下能輸出或吸收600mA或更大電流，該電流源可以立刻使節(jié)點(diǎn)達(dá)到測(cè)試所需的邏輯電平。這種短時(shí)間過度激勵(lì)元件輸出使一個(gè)節(jié)點(diǎn)變?yōu)榉聪蜻壿嫚顟B(tài)的技術(shù)通常稱為反向驅(qū)動(dòng)。
　　在圖1當(dāng)中，若N1或N2為邏輯低電平，那么U3的輸出將使N8也為低電平。如果在測(cè)試U8時(shí)測(cè)試儀要求引腳4為高電平，則連在節(jié)點(diǎn)N8上的驅(qū)動(dòng)器就應(yīng)在短時(shí)內(nèi)輸出足夠的電流對(duì)U3輸出提供反向驅(qū)動(dòng)，這樣U8的引腳4就獲得了邏輯高電平。

　　◆禁止為了避免總線沖突和減少反向驅(qū)動(dòng)，在線測(cè)試儀使用一種稱為“禁止”的技術(shù)。在圖1中，U5的輸出可由一個(gè)使能信號(hào)來控制，給節(jié)點(diǎn)N9一個(gè)低電平將使U5輸出為高阻狀態(tài)，從而有效地將它斷開，這樣就不會(huì)和U8的引腳16輸出相沖突。
　　禁止技術(shù)在驅(qū)動(dòng)元件輸入引腳時(shí)也能有效消除對(duì)反向驅(qū)動(dòng)輸出的要求。再看圖1，U1輸出可由一個(gè)使能信號(hào)進(jìn)行控制，給節(jié)點(diǎn)N6一個(gè)高電平將使U1輸出為高阻狀態(tài)，相當(dāng)于將U1從電路中取走。禁止U1之后，測(cè)試儀在施加測(cè)試向量到U8引腳11時(shí)，節(jié)點(diǎn)N7上的驅(qū)動(dòng)器就無需再施加任何反向驅(qū)動(dòng)電流了。
　　但這一技術(shù)只能用于具有三態(tài)邏輯輸出的器件，不能斷開像圖中U2和U3這類兩態(tài)邏輯輸出器件，因?yàn)檫@類器件的輸出只有兩種狀態(tài)，要末高電平，要末低電平。

　　◆抑制 在圖1中，如果N1和N2為高電平，N8將因U3的輸出置為邏輯高電平。在測(cè)試U8時(shí)，任何施加于N8的測(cè)試向量如果為低電平，都會(huì)要求測(cè)試儀驅(qū)動(dòng)器在短時(shí)間內(nèi)提供大量電流使得節(jié)點(diǎn)N8變低。節(jié)點(diǎn)N1和N2中任一個(gè)邏輯狀態(tài)從高電平轉(zhuǎn)變?yōu)榈碗娖胶骍3輸出也將會(huì)由高變?yōu)榈?，如果這是在輸出受到反向驅(qū)動(dòng)時(shí)發(fā)生，那么用于對(duì)輸出進(jìn)行反向驅(qū)動(dòng)的電流就不需要了，它將在受反向驅(qū)動(dòng)的節(jié)點(diǎn)處以瞬態(tài)電壓脈沖形式耗散掉。